चंडीगढ़, 11 मार्च, 2025- पीयू की कुलपति प्रो. रेणु विग और माइक्रोन टेक्नोलॉजी के प्रिंसिपल फेलो और उपाध्यक्ष डॉ. गुरतेज सिंह संधू ने पंजाब विश्वविद्यालय के परिष्कृत विश्लेषणात्मक इंस्ट्रूमेंटेशन सुविधा (SAIF) में नवीनतम उच्च-स्तरीय विश्लेषणात्मक उपकरण, एक्स-रे फोटोइलेक्ट्रॉन स्पेक्ट्रोस्कोपी (XPS) प्रणाली का उद्घाटन किया। डॉ. संधू कल विज्ञान रत्न प्राप्त करने के लिए पहुंचे हैं।
5 करोड़ रुपये की कीमत वाला यह अत्याधुनिक उपकरण विज्ञान और प्रौद्योगिकी विभाग (DST), नई दिल्ली से उदार अनुदान के माध्यम से खरीदा गया है, जो वैज्ञानिक अनुसंधान को आगे बढ़ाने के लिए SAIF की प्रतिबद्धता को पुष्ट करता है।
इस अवसर पर सैफ/सीआईएल के निदेशक प्रोफेसर गौरव वर्मा के साथ सैफ के कई पूर्व निदेशक भी मौजूद थे, जिनके अमूल्य योगदान ने इस सुविधा को एक प्रमुख शोध केंद्र बनाने में महत्वपूर्ण भूमिका निभाई है। सेमीकंडक्टर उद्योग में एक प्रतिष्ठित व्यक्ति डॉ. संधू के पास 1,382 यू.एस. उपयोगिता पेटेंट हैं, जो उन्हें वैश्विक स्तर पर शीर्ष आविष्कारकों में से एक बनाता है। 
पतली फिल्म प्रक्रियाओं और अर्धचालक उपकरण निर्माण में उनके अग्रणी कार्य ने मेमोरी चिप प्रौद्योगिकियों को काफी उन्नत किया है। एक्स-रे फोटोइलेक्ट्रॉन स्पेक्ट्रोस्कोपी (एक्सपीएस) सामग्री विज्ञान में एक अपरिहार्य उपकरण है, जो सतह रसायन विज्ञान, तत्व संरचना और रासायनिक अवस्थाओं के सटीक विश्लेषण को सक्षम बनाता है। इसके अनुप्रयोग विविध क्षेत्रों में फैले हुए हैं, जिनमें डिवाइस निर्माण, नैनो प्रौद्योगिकी, पर्यावरण विज्ञान और उन्नत सामग्री अनुसंधान शामिल हैं।